wersja mobilna
Online: 556 Czwartek, 2017.05.25

Gospodarka

National Instruments współpracuje z Kepware

środa, 02 stycznia 2008 15:04

Firmy National Instruments i Kepware Technologies podpisały porozumienie o współpracy w zakresie technologii komunikacyjnych. Kepware ma dostarczać NI rozwiązania, które pozwolą na proste łączenie LabView w zaawansowane systemy przemysłowe do pomiaru, analizy i sterowania. W zakresie oferty Kepware Technologies znajdują się miedzy innymi nowoczesne rozwiązania z dziedziny wymiany informacji, takie jak serwery OPC Kepware KEPServerEX. To właśnie dzięki nim National Instruments ma stworzyć NI OPC Server, który pozwoli na wykorzystywanie LabView w połączeniu z różnymi urządzeniami automatyki przemysłowej. Specjaliści z branży oceniają, że nowy kontrakt znacząco zwiększy możliwości LabView i rozpowszechni technologię Kepware. Tymczasem dla producentów i firm wdrożeniowych nowe porozumienie jest szansą na uniknięcie konieczności stosowania produktów i technologii firm trzecich, w celu połączenia dwóch obecnie niekompatybilnych ze sobą systemów pracujących pod kontrolą LabView.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

2017-05-25   |
Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

Firma TE Connectivity wprowadza do oferty serię ramek termoplastycznych HDC do produkowanych przez nią konfigurowalnych złączy heavy-duty serii HMN. Ramki te umożliwiają poprawne zainstalowanie modułów optycznych i elektrycznych we wkładce bez użycia narzędzi i bez konieczności patrzenia na wkładkę, co ułatwia ich instalację w miejscach o utrudnionej widoczności.
czytaj więcej

Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

2017-05-25   |
Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

LEM powiększa ofertę cewek Rogowskiego serii ART o nowe wersje mogące mierzyć prądy o natężeniu 10000 AAC i większym w klasie dokładności 0,5, zgodnie z IEC 61869. Nie wymagają przy tym żadnych dodatkowych komponentów, m.in. rezystorów czy kondensatorów, wykazujących dryft parametrów w czasie.
czytaj więcej