wersja mobilna
Online: 669 Wtorek, 2017.10.17

Gospodarka

National Instruments współpracuje z Kepware

środa, 02 stycznia 2008 15:04

Firmy National Instruments i Kepware Technologies podpisały porozumienie o współpracy w zakresie technologii komunikacyjnych. Kepware ma dostarczać NI rozwiązania, które pozwolą na proste łączenie LabView w zaawansowane systemy przemysłowe do pomiaru, analizy i sterowania. W zakresie oferty Kepware Technologies znajdują się miedzy innymi nowoczesne rozwiązania z dziedziny wymiany informacji, takie jak serwery OPC Kepware KEPServerEX. To właśnie dzięki nim National Instruments ma stworzyć NI OPC Server, który pozwoli na wykorzystywanie LabView w połączeniu z różnymi urządzeniami automatyki przemysłowej. Specjaliści z branży oceniają, że nowy kontrakt znacząco zwiększy możliwości LabView i rozpowszechni technologię Kepware. Tymczasem dla producentów i firm wdrożeniowych nowe porozumienie jest szansą na uniknięcie konieczności stosowania produktów i technologii firm trzecich, w celu połączenia dwóch obecnie niekompatybilnych ze sobą systemów pracujących pod kontrolą LabView.

 

zobacz wszystkie Nowe produkty

Detektor wielogazowy X-am 8000

2017-10-16   | Dräger Safety Polska Sp. z o. o.
Detektor wielogazowy X-am 8000

Dräger X-am 8000 mierzy do siedmiu toksycznych lub palnych gazów i par oraz tlenu jednocześnie - w trybie pracy z pompą lub dyfuzji. X-am 8000 wspiera typowe aplikacje oferując specjalnie opracowane funkcje asystenta, które prowadzą użytkownika krok po kroku. Podczas pomiaru przed wejściem do pomieszczeń ograniczonych, z różnych parametrów, jak mierzone gazy, granice temperatury czy długość węża, urządzenie oblicza wymagany czas pomiaru.
czytaj więcej

Tester kabli do kamer

2017-10-16   | Semicon Sp. z o.o.
Tester kabli do kamer

Semicon oferuje własnej produkcji tester kabli kamerowych TK-100. Umożliwia on szybkie sprawdzanie kabli wizyjnych, zasilających oraz sterujących kamerami. Tester może pracować w trybie ciągłym (umożliwia sprawdzenie kabla podczas poruszania nim, zwijania, itp.) oraz sekwencyjnym (możliwość identyfikacji zwarć pomiędzy żyłami, żyłą i ekranem, itp.).
czytaj więcej