wersja mobilna
Online: 432 Piątek, 2017.05.26

Gospodarka

Współpraca Mitsubishi IBM i ILS

wtorek, 01 kwietnia 2008 11:10

Trzy koncerny – Mitsubishi, IBM oraz ILS podjęły wspólne działania w celu opracowania architektury integrującej oprogramowanie związane z łącznością z programami dostarczającymi usługi na terenie zakładów produkcyjnych. Oprogramowanie to ma realizować koncepcję, w której nie występują programy MES, które są często uważane za utrudnienie w procesie przetwarzania informacji z zakładów produkcyjnych, pomimo że właśnie do tego celu zostały stworzone. Nowe rozwiązanie zaproponowane przez Mitsubishi, IBM i ILS ma pozwolić na pominięcie stopnia MES i umożliwić bezpośrednie, sprawne przekazywanie danych pomiędzy elementami automatyki przemysłowej a warstwą biznesową oprogramowania firmowego. W styczniu tego roku grupa zaprezentowała już referencyjną architekturę realizującą nową koncepcję. W jej skład wchodzą programowalne sterowniki Mitsubishi iQ Automation, w których zastosowano oprogramowanie ILS Technology DeviceWise oraz interfejsy MX MES Interface IT i IBM SOA.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

2017-05-25   |
Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

Firma TE Connectivity wprowadza do oferty serię ramek termoplastycznych HDC do produkowanych przez nią konfigurowalnych złączy heavy-duty serii HMN. Ramki te umożliwiają poprawne zainstalowanie modułów optycznych i elektrycznych we wkładce bez użycia narzędzi i bez konieczności patrzenia na wkładkę, co ułatwia ich instalację w miejscach o utrudnionej widoczności.
czytaj więcej

Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

2017-05-25   |
Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

LEM powiększa ofertę cewek Rogowskiego serii ART o nowe wersje mogące mierzyć prądy o natężeniu 10000 AAC i większym w klasie dokładności 0,5, zgodnie z IEC 61869. Nie wymagają przy tym żadnych dodatkowych komponentów, m.in. rezystorów czy kondensatorów, wykazujących dryft parametrów w czasie.
czytaj więcej