wersja mobilna
Online: 566 Czwartek, 2017.05.25

Gospodarka

Targi Vision 2008 już niedługo

czwartek, 30 października 2008 02:00

W dniach 4-6 listopada w Niemczech (Stuttgart) odbędzie się 21 edycja Międzynarodowych Targów Widzenia Maszynowego i Technik Identyfikacji.

Organizatorzy podają, że w tym roku produkty z zakresu przemysłowych systemów wizyjnych zaprezentuje około 300 wystawców z blisko 30 krajów. Polskę będą reprezentować dwie firmy: Adaptive Vision (Future Processing) z Bytomia oraz IMACO z Warszawy.

W ramach targów będzie można zapoznać się z najnowszymi rozwiązaniami w zakresie kompleksowych systemów wizyjnych oraz ich poszczególnych komponentów (oświetlenia, elementów optyki, kamer, czujników wizyjnych, frame grabberów oraz oprogramowania). Poza standardowym programem organizatorzy zapewniają wystawcom i gościom targów możliwość uczestniczenia w prezentacjach oraz szkoleniach (np. seria prezentacji firmowych pod hasłem Industrial Vision Days).

Więcej informacji na temat Vision 2008 można znaleźć na stronie: www.messe-stuttgart.de.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

2017-05-25   |
Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

Firma TE Connectivity wprowadza do oferty serię ramek termoplastycznych HDC do produkowanych przez nią konfigurowalnych złączy heavy-duty serii HMN. Ramki te umożliwiają poprawne zainstalowanie modułów optycznych i elektrycznych we wkładce bez użycia narzędzi i bez konieczności patrzenia na wkładkę, co ułatwia ich instalację w miejscach o utrudnionej widoczności.
czytaj więcej

Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

2017-05-25   |
Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

LEM powiększa ofertę cewek Rogowskiego serii ART o nowe wersje mogące mierzyć prądy o natężeniu 10000 AAC i większym w klasie dokładności 0,5, zgodnie z IEC 61869. Nie wymagają przy tym żadnych dodatkowych komponentów, m.in. rezystorów czy kondensatorów, wykazujących dryft parametrów w czasie.
czytaj więcej