wersja mobilna
Online: 497 Piątek, 2017.05.26

Gospodarka

Targi parts2clean 2008 zakończone

piątek, 31 października 2008 07:40

W dniach 28-30 października w Stuttgarcie odbyła się 6 edycja Międzynarodowych Targów Przemysłowych Technik Czyszczących parts2clean, skierowanych do przedstawicieli tych sektorów przemysłu, w których dokładne oczyszczanie detali w procesie produkcji decyduje o jakości finalnego produktu.

Wśród wystawców można było spotkać producentów urządzeń czyszczących różnymi technikami, m.in.: czyszczenie mechaniczne, chemiczne, ultradźwiękowe, parą, suchym lodem, laserem, plazmą (metoda stosowana m.in. w czyszczeniu płytek krzemowych). Na parts2clean swoje produkty zaprezentowali również dostawcy środków czyszczących, konserwujących, chroniących przed korozją oraz producenci urządzeń do osuszania i pakowania detali oraz sprzętu do kontroli jakości elementów. Polskę reprezentowała firma EKO-PIL (www.ekopil.com) – producent m.in. myjek tunelowych i komorowych.

Więcej informacji na stronie: www.parts2clean.de.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

2017-05-25   |
Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

Firma TE Connectivity wprowadza do oferty serię ramek termoplastycznych HDC do produkowanych przez nią konfigurowalnych złączy heavy-duty serii HMN. Ramki te umożliwiają poprawne zainstalowanie modułów optycznych i elektrycznych we wkładce bez użycia narzędzi i bez konieczności patrzenia na wkładkę, co ułatwia ich instalację w miejscach o utrudnionej widoczności.
czytaj więcej

Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

2017-05-25   |
Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

LEM powiększa ofertę cewek Rogowskiego serii ART o nowe wersje mogące mierzyć prądy o natężeniu 10000 AAC i większym w klasie dokładności 0,5, zgodnie z IEC 61869. Nie wymagają przy tym żadnych dodatkowych komponentów, m.in. rezystorów czy kondensatorów, wykazujących dryft parametrów w czasie.
czytaj więcej