wersja mobilna
Online: 587 Czwartek, 2017.05.25

Gospodarka

National Instruments szkoli w zakresie PXI

wtorek, 09 czerwca 2009 10:17

National Instruments szkoli w zakresie PXI Seminaria firmy National Instruments na stałe weszły do kalendarzy wielu automatyków, projektantów systemów i innych inżynierów, którzy w swojej pracy realizują zaawansowane pomiary i testy. Podczas ostatniego cyklu takich konferencji, które odbyły się na przełomie maja i czerwca, poznać można było zagadnienia związane z wysokowydajnymi systemami testującymi.



Testowanie z PXI

Czterogodzinne seminarium obejmowało zagadnienia związane z oprzyrządowaniem modułowym, migracją ze standardowych przyrządów pomiarowych do wirtualnych oraz środowiskiem programowania graficznego LabVIEW. W centrum uwagi były platformy sprzętowe w standardzie PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) i PXI Express. Definiują one systemy pomiarowe składające się maksymalnie z kilkunastu modułów w jednej obudowie i pozwalające na generację i pomiary sygnałów o częstotliwościach do 6,6GHz.

Nowości w dziedzinie

pomiarów Rozwój systemów testowych jest odpowiedzią na potrzeby rynku, w tym na konieczność akwizycji różnorodnych sygnałów i przetwarzania dużych ilości danych. Z tych powodów na seminarium szczególną uwagę zwrócono na najnowsze rozwiązania w tej dziedzinie. Jednym z nich było strumieniowanie sygnałów, które istotne jest przy testowaniu urządzeń multimedialnych i systemów, gdzie przetwarzane są duże ilości danych.

Na spotkaniu pokazywano również, na przykładzie modułów FlexRIO, jak wykorzystać można w aplikacjach testujących układy rekonfigurowalne FPGA, a także prezentowano zagadnienia związane z technologiami wielkiej częstotliwości. Uzupełnieniem były prezentacje rozwiązań testujących różnych firm – do pomiarów wielokanałowych, wymagających krótkich czasów testowania czy ścisłej synchronizacji.

Przyszłe konferencje

Podobnie jak w przypadku innych cykli konferencji organizowanych przez NI, organizatorzy zadbali o zapewnienie możliwości spotkania z zainteresowanymi osobami jak najbliżej miejsca ich zamieszkania. Ze specjalistami z firmy spotkać można było się w 9 miastach na konferencjach, przy czym, zgodnie z komentarzem przedstawicieli firmy, na seminaria przybyli inżynierowie reprezentujący praktycznie całe spektrum przemysłu. W tym roku National Instruments zorganizuje we wrześniu jeszcze m.in. Energy Forum, które poświęcone będzie projektowaniu ekologicznych urządzeń i systemów.

Zbigniew Piątek





 

Co jest tematyką bieżącego cyklu konferencji? Jakiego rodzaju inne konferencje prowadzicie?

Cykle spotkań dla inżynierów organizujemy kilka razy w roku, przy czym mogą być to imprezy trojakiego rodzaju. Corocznie prowadzimy całodzienne NI Days, które obejmuje prezentację różnorodnych rozwiązań oferowanych przez NI. Organizujemy też szkolenia typu hands-on, gdzie przyszły użytkownik naszych rozwiązań może sprawdzić nasze platformy programowo-sprzętowe w konkretnych aplikacjach.

Trzecim rodzajem spotkań są prezentacje rozwiązań, w przypadku których przyrządy modułowe stosowane są do tworzenia systemów testowych, ATE i wspomagania projektowania. W tych przypadkach zazwyczaj skupiamy się na konkretnej grupie zagadnień technicznych.

Majowo-czerwcowy cykl konferencji poświęcony jest prezentacji nowych produktów i technologii związanych z systemami automatycznego testowania PXI. Obejmuje on zautomatyzowane, hybrydowe systemy testowe – takie, które odpowiadają na potrzeby inżynierów w zakresie przetwarzania i pomiarów dużych ilości różnorodnych danych. Przykładami są aplikacje, gdzie mamy do czynienia dużymi strumieniami danych charakterystycznymi dla serii pomiarów w systemach wideo oraz układach wielkiej częstotliwości.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

2017-05-25   |
Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

Firma TE Connectivity wprowadza do oferty serię ramek termoplastycznych HDC do produkowanych przez nią konfigurowalnych złączy heavy-duty serii HMN. Ramki te umożliwiają poprawne zainstalowanie modułów optycznych i elektrycznych we wkładce bez użycia narzędzi i bez konieczności patrzenia na wkładkę, co ułatwia ich instalację w miejscach o utrudnionej widoczności.
czytaj więcej

Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

2017-05-25   |
Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

LEM powiększa ofertę cewek Rogowskiego serii ART o nowe wersje mogące mierzyć prądy o natężeniu 10000 AAC i większym w klasie dokładności 0,5, zgodnie z IEC 61869. Nie wymagają przy tym żadnych dodatkowych komponentów, m.in. rezystorów czy kondensatorów, wykazujących dryft parametrów w czasie.
czytaj więcej