wersja mobilna
Online: 725 Czwartek, 2017.05.25

Gospodarka

Motorola przedstawiła plany rozwoju działu EMS w Polsce

czwartek, 06 maja 2010 09:05

W marcu w Warszawie przedstawiciele Działu Korporacyjnych Rozwiązań Mobilnych (Enterprise Mobility Solutions – EMS) Motoroli zorganizowali konferencję prasową, w trakcie której m.in. omówiono globalną strategię producenta, w tym procesy restrukturyzacyjne oraz ofertę dla rynków biznesu i administracji publicznej.

Głównym tematem spotkania były jednak perspektywy rozwoju działalności firmy na terenie Polski. Przedstawiciele Motoroli zgodnie stwierdzili, że nasz kraj pozostaje dla koncernu ważnym rynkiem o czym świadczy np. rozwój Centrum Oprogramowania w Krakowie, w którym aktualnie pracuje już w sumie ponad tysiąc osób.

Ponadto firma za pośrednictwem działu EMS próbuje obecnie dotrzeć ze swoją ofertą w zakresie bezprzewodowego dostępu informacji do jak największej liczby polskich instytucji publicznych, przedsiębiorstw oraz użytkowników prywatnych.

 

Powiązane artykuły

Plany grupy Complex

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

2017-05-25   |
Ramki dokujące do złączy heavy-duty serii HMN

Firma TE Connectivity wprowadza do oferty serię ramek termoplastycznych HDC do produkowanych przez nią konfigurowalnych złączy heavy-duty serii HMN. Ramki te umożliwiają poprawne zainstalowanie modułów optycznych i elektrycznych we wkładce bez użycia narzędzi i bez konieczności patrzenia na wkładkę, co ułatwia ich instalację w miejscach o utrudnionej widoczności.
czytaj więcej

Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

2017-05-25   |
Cewki Rogowskiego o zakresie pomiarowym do 10000 AAC i klasie dokładności 0,5

LEM powiększa ofertę cewek Rogowskiego serii ART o nowe wersje mogące mierzyć prądy o natężeniu 10000 AAC i większym w klasie dokładności 0,5, zgodnie z IEC 61869. Nie wymagają przy tym żadnych dodatkowych komponentów, m.in. rezystorów czy kondensatorów, wykazujących dryft parametrów w czasie.
czytaj więcej