wersja mobilna
Online: 451 Czwartek, 2017.05.25

Gospodarka

Nagrody ABB za prace naukowe rozdane

poniedziałek, 28 maja 2012 09:39

Dziewiąta edycja Konkursu o Nagrodę ABB okazała się jedną z najlepszych - nie tylko pod względem poziomu zgłoszonych prac. Do konkursu przystąpili absolwenci aż 24 polskich uczelni oraz 2 zagranicznych. Zaproponowane przez wielu z nich teorie, metody i praktyczne rozwiązania mogą okazać się bardzo przydatne w przemyśle.

Nagrody w konkursie, obejmującym najlepsze prace doktorskie, magisterskie i inżynierskie wręczono w Centrum Badawczym ABB w Krakowie. Zdaniem dyrektora jednostki Marka Florkowskiego niektóre prace były na tyle dobre i interesujące, że mogłyby być kontynuowane w samym Centrum Badawczym. Zresztą - jak dodał - Nagroda ABB ułatwia laureatom dalszą pracę naukową, a nawet zastosowanie pewnych rozwiązań w przemyśle.

Konkurs o nagrodę ABB odbył się już po raz 9-ty. Zwycięzca tegorocznej edycji, Szymon Pasko z Wydziału Elektrycznego Politechniki Śląskiej, otrzymał 25 tys. zł za pracę doktorską pt. "Analiza wpływu konstrukcji na właściwości filtrów zaburzeń przewodzonych przekształtników energoelektronicznych". Dwa pozostałe wyróżnienia otrzymali Wojciech Macherzyński (Politechnika Wrocławska) i Piotr Wcisło (Uniwersytet Jagielloński).

Michał Pieniążek

źródło: ABB

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Specjalizowana płytka rozwojowa dla robotyki

2017-05-24   | Farnell element 14
Specjalizowana płytka rozwojowa dla robotyki

Farnell element14 oferuje nową płytkę projektową BeagleBone Blue opracowaną przez fundację BeagleBoard.org i przeznaczoną do tworzenia aplikacji z obszaru robotyki i pojazdów autonomicznych. BBB bazuje na komputerze BeagleBone i systemie Linux oraz na dodatkowych układach peryferyjnych pozwalających na wygodne sterowanie silnikami, urządzeniami wykonawczymi i odczyt czujników wchodzących w skład robotów.
czytaj więcej

Monitorowanie miniaturowych systemów lutowania na fali

2017-05-24   | Fluke Europe B. V.
Monitorowanie miniaturowych systemów lutowania na fali

Fluke Process Instruments prezentuje najmniejszy na rynku system profilowania termicznego zaprojektowany specjalnie do monitorowania miniaturowych systemów lutowania selektywnego na fali. Datapaq SelectivePaq korzysta z czterech termopar mierzących temperaturę modułu elektronicznego przechodzącego przez fazy nagrzewania wstępnego i lutowania.
czytaj więcej