wersja mobilna
Online: 489 Poniedziałek, 2017.05.29

Gospodarka

Dzień Programistów LabVIEW z Jeffem Kodoskim

wtorek, 26 maja 2015 12:33

Firma National Instruments zaprasza na coroczną konferencję "Dzień Programistów LabVIEW". Odbędzie się ona 10 czerwca w hotelu Angelo w Katowicach. W tym roku gościem specjalnym będzie Jeff Kodoski - współzałożyciel National Instruments i twórca LabVIEW. W przemówieniu otwierającym konferencję omówi on powody stworzenia graficznego języka programowania, etapy jego rozwoju oraz przyszłość środowiska LabVIEW. Odpowie również na pytania gości w trakcie panelu dyskusyjnego.

Tematyka sesji technicznych obejmować będzie między innymi:

  • szablony projektowe w projektowaniu obiektowym;
  • projektowanie API w środowisku LabVIEW;
  • programowanie z myślą o przyszłości - projektowanie aplikacji w oparciu o moduły;
  • optymalizacja procesu projektowania i techniki testowania kodu pisanego przy wykorzystaniu modułu LabVIEW FPGA.

Uczestnictwo w konferencji wymaga wcześniejszej rejestracji na stronie poland.ni.com.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

zobacz wszystkie Nowe produkty

Nowy mechanizm przeciwwagi do podnoszenia i stabilizacji ciężkich drzwi i pokryw

2017-05-26   |
Nowy mechanizm przeciwwagi do podnoszenia i stabilizacji ciężkich drzwi i pokryw

Firma Southco rozszerzyła w ostatnim czasie swoje portfolio systemów Positioning Technology o nowy mechanizm przeciwwagi dla dużych obciążeń. CB Lift-A-SYST został zaprojektowany do kontrolowania masy ciężkich drzwi i pokryw (do 80 kg), umożliwiając ich łatwe podnoszenie i pozycjonowanie.
czytaj więcej

Panele podłączeniowe do czujników przemysłowych

2017-05-26   | HARTING Polska Sp. z o.o.
Panele podłączeniowe do czujników przemysłowych

W ofercie firmy HARTING pojawiły się nowe panele podłączeniowe przeznaczone do podłączania czujników w aplikacjach przemysłowych. Mają one niewielkie wymiary oraz zwartą, kompaktową budowę i są przeznaczone do usprawnienia procesu okablowania, który odbywa się zwykle w warunkach terenowych, najczęściej niekomfortowych dla obsługi.
czytaj więcej