DNI OTWARTE ZEISS - optyczne urządzenia pomiarowe i kontrolne

| Konferencja

DNI OTWARTE ZEISS - optyczne urządzenia pomiarowe i kontrolne

W dniu 6 grudnia 2016 roku w Centrum Pomiarów Współrzędnościowych w Mikołowie oraz 7 grudnia 2016 roku w Laboratorium Pomiarowym ZEISS w Warszawie odbędzie się Dzień Otwarty z optycznymi urządzeniami pomiarowymi ZEISS.

W czasie spotkania, po krótkim wstępie teoretycznym, zaprezentujemy w trybie warsztatów stykowo-optyczną maszynę pomiarową (tylko Mikołów), skanery 3D (ręczny i stacjonarny), projektor 2D oraz wybór mikroskopów ZEISS.

Jeśli są Państwo zainteresowani wzięciem udziału w imprezie, prosimy o zgloszenie chęci uczestnictwa pod adresem: katarzyna.piwowarska@zeiss.com lub numerem telefonu 22 205 55 27 / 32

Uczestnictwo w wydarzeniu jest bezpłatne - wymagamy jedynie rejestracji z powody ograniczonej ilości miejsc.