wersja mobilna
Online: 1105 Poniedziałek, 2017.02.27

Temat miesiąca

Systemy wizyjne i termografia

wtorek, 31 lipca 2007 12:33

Możliwość obserwacji obiektów w świetle widzialnym i podczerwieni, akwizycji danych obrazowych oraz ich późniejszej, zaawansowanej analizy bardzo znacząco rozszerzyły możliwości diagnostyki i badań stosowanych w przemyśle. Systemy wizyjne, wraz z rosnącymi wymogami co do jakości wytwarzanych towarów, stały się obowiązkowymi elementami linii produkcyjnych szeregu przedsiębiorstw krajowych. Ich dostawcy prognozują również, że dotychczasowy wzrost w tej branży będzie w kolejnych latach utrzymywał się, co dotyczy także rynku polskiego.

Spis treści:

W świetle widzialnym i podczerwieni - raport techniczno-rynkowy

Rozmowa z dr. inż. Piotrem Pręgowskim, właścicielem firmy PIRS

Architektury czujników obrazu do systemów wizyjnych

Termowizyjna metoda diagnostyki technicznej w BOT Elektrowni Bełchatów

 

zobacz wszystkie Nowe produkty

Sześciokanałowy autonomiczny symulator czujników RTD i rezystancji

2017-02-27   |
Sześciokanałowy autonomiczny symulator czujników RTD i rezystancji

Firma Highland Technology opracowała 6-kanałowy symulator czujników RTD i rezystancji o symbolu P620, przeznaczony do testowania na poziomie systemowym kontrolerów, pętli sterowania i innych krytycznych obwodów. Każdy z jego 8 niezależnych, odizolowanych kanałów umożliwia symulację popularnych typów czujników RTD i rezystancji w szerokim zakresie 6 dekad.
czytaj więcej

Zaawansowane moduły COM Express z mikroprocesorami Intel Core 7. generacji

2017-02-27   |
Zaawansowane moduły COM Express z mikroprocesorami Intel Core 7. generacji

Avnet Embedded rozpoczyna produkcję dwóch zaawansowanych modułów formatu COM Express Type 6, wyposażonych w mikroprocesory Intel Core 7. generacji (Kaby Lake): MSC C6C-KLU i MSC C6B-KLH. Najnowsze mikroprocesory Kaby Lake są produkowane w technologii 14 nm, podobnie jak wcześniejsze mikroprocesory Intel Core 6. generacji, natomiast dzięki wprowadzonym optymalizacjom oferują większą szybkość obliczeniową przy tym samym poborze mocy.
czytaj więcej

Nowy numer APA