Aplikacja DXF OVERLAY do mikroskopów TAGARNO

Oprogramowanie do mikroskopów TAGARNO TREND oraz PRESTIGE

Aplikacja DXF OVERLAY do mikroskopów TAGARNO

• Oprogramowanie do mikroskopów TAGARNO TREND oraz PRESTIGE
• Aplikacja DXF Overlay umożliwia kontrolę próbki przy użyciu pliku DXF jako obrazu na monitorze. Poprzez proste dodanie pliku i użycie go jako nakładki na próbkę, można łatwo zobaczyć na ekranie jednocześnie próbkę i plik DXF w czasie rzeczywistym