Laserowy skaner profili o rozdzielczości 12 μm
Laserowy skaner profili Scancontrol 3060-25/BL firmy Micro Epsilon ustanawia nowe standardy w zakresie pomiarów szybkich i precyzyjnych. Zrealizowany na bazie innowacyjnej techniki niebieskiego lasera, zapewnia dużą dokładność pomiaru, a tryb szerokiego zakresu dynamicznego daje możliwość prowadzenia precyzyjnych pomiarów również na wymagających rodzajach powierzchni. Skaner jest w stanie skalibrować dane profilu 2D z niemal 5,5 milionami punktów/s i generuje do 2048 punktów pomiarowych na profil. Zapewnia rozdzielczość 12 μm w osi X. Dzięki częstotliwości skanowania do 10 kHz, jest przeznaczony w szczególności do zastosowań w szybkich procesach.
Zastosowany w modelu Scancontrol 3060-25/BL tryb HDR (High Dynamic Range) generuje precyzyjne wyniki pomiarów nawet na niejednorodnych powierzchniach. W tym trybie linie matrycy czujnika są naświetlane równocześnie lecz ze zmienną intensywnością. Sensor automatycznie dobiera najbardziej optymalną krzywą intensywności i generuje precyzyjne wyniki pomiaru nawet na ciemnych i niejednorodnych powierzchniach. Sygnał wyjściowy jest przesyłany przez interfejs Ethernet (UDP/Modbus TCP) lub RS422 (ASCII/Modbus RTU). Ponadto, opcjonalna bramka dostępowa Scancontrol umożliwia wyprowadzanie wartości mierzonych przez interfejsy Profinet, EtherCAT lub Ethernet/IP.
Scancontrol 3060-25/BL to skaner laserowy oparty na technologii Blue Laser, znacznie lepiej sprawdzającej się w różnych zadaniach pomiarowych w porównaniu z czujnikami z czerwoną diodą laserową. W przeciwieństwie do czerwonego lasera, mniejsza długość fali lasera niebiesko-fioletowego powoduje, że światło laserowe prawie nie przenika do mierzonego obiektu. Efekt ten staje się widoczny zwłaszcza w przypadku materiałów organicznych, takich jak drewno oraz obiektów półprzezroczystych, takich jak profile z tworzyw sztucznych. Niebieska linia lasera jest dobrze widoczna nawet na tego typu powierzchniach. Jest ona następnie rzutowana na czujnik, zapewniający stabilne i precyzyjne wyniki pomiaru.