Monitorowanie miniaturowych systemów lutowania na fali

Fluke Process Instruments prezentuje najmniejszy na rynku system profilowania termicznego zaprojektowany specjalnie do monitorowania miniaturowych systemów lutowania selektywnego na fali. Datapaq SelectivePaq korzysta z czterech termopar mierzących temperaturę modułu elektronicznego przechodzącego przez fazy nagrzewania wstępnego i lutowania.

Interwały pobierania próbek mogą być programowane w zakresie do 20 razy w ciągu sekundy. Szczegółowe profile temperaturowe pozwalają producentom elektroniki regulować parametry dla zapewnienia optymalnej wydajności, kontrolować jakość płytek PCB oraz zapewnić właściwe temperatury procesu.

System profilowania obejmuje nowy 4-kanałowy mikro-rejestrator Datapaq Q18 z miniaturowymi wtykami termoparowymi i barierą termiczną o małej masie, wysokości 20 mm i szerokości 40 mm. Nadaje się on doskonale do monitorowania parametrów maszyn o bardzo małej dostępnej przestrzeni oraz do współpracy z ramkami montażowymi.

Uzupełniająca matryca czujnikowa do lutowania selektywnego ułatwia regularne i częste prowadzenie pomiarów stabilności procesów. Rejestrator zapewnia dużą dokładność pomiaru równą ±0,5°C i rozdzielczość 0,1°C.

Umożliwia podłączenie do trzech termopar o regulowanej wysokości po pomiaru temperatury fali lutowniczej oraz do dwóch termopar nagrzewania wstępnego, umożliwiając monitorowanie obu faz procesu. Termopary nagrzewania wstępnego zawierają sensor górny i dolny.

Zostały przystosowane do technologii nagrzewania wstępnego IR i konwencjonalnej. Jednoczęściowa, aluminiowa obudowa rejestratora oraz wymienny pakiet akumulatorowy zapewniają długi czas bezawaryjnej pracy i niskie koszty użytkowania.

System jest dostarczany z pełną wersją oprogramowania DATAPAQ Insight. Zakres analizy danych obejmuje maksymalne nachylenia zboczy, maksymalne temperatury i czasy kontaktu z falą. Oprogramowanie umożliwia eksport danych do innych aplikacji kompatybilnych ze środowiskiem Windows.