reflectCONTROL Compact to system automatycznej inspekcji powierzchni, wykorzystujący metodę deflektometrii do wykrywania i oznaczania defektów produkcyjnych m.in. ekranów tabletów i smartfonów oraz zwierciadeł i soczewek teleskopów. Znajduje zastosowanie do inspekcji powierzchni przeźroczystych, lustrzanych i połyskliwych z tworzywa sztucznego, folii, szkła itp.
Jest to system zintegrowany, występujący w dwóch wersjach różniących się zakresem zastosowań. Wersja 2D identyfikuje defekty na powierzchni.
Wersja 3D, oferująca dodatkowo możliwość prowadzenia pomiarów z dokładnością na poziomie µm generuje chmurę punktów do zastosowań w programach do przetwarzania obrazu (rekonstrukcja 3D). Może znaleźć zastosowanie w laboratoriach i na liniach produkcyjnych.
Pozostałe cechy:
Więcej na: www.wobit.com.pl