Wysoka temperatura ma negatywny wpływ na żywotność podzespołów elektronicznych, ze względu na przyspieszone starzenie się wielu materiałów półprzewodnikowych. Może to być spowodowane na przykład złym połączeniem elektrycznym, zwiększającym rezystancję styku. Jednak wysoka temperatura pracy jest również typowa w przypadku złożonych komponentów półprzewodnikowych, takich jak mikroprocesory.
Dzięki nowej optyce mikroskopowej MO2X z 2-krotnym powiększeniem, kamera na podczerwień PI 640i firmy Optris jest teraz w stanie rejestrować obrazy w podczerwieni nawet bardzo złożonych struktur. Do dokładnego pomiaru temperatury stosowane są piksele 4x4 (MFOV), pozwalające na analizowanie obiektów o długości zaledwie 34 μm. Rozdzielczość termiczna wynosi 80 mK, a duża ostrość umożliwia pracę w odległości 15 mm od analizowanego obiektu.
Ponieważ optykę kamer serii PI można łatwo wymienić, system może być elastycznie dostosowywany do różnych zadań pomiarowych. Maksymalna rozdzielczość kamery wynosi 640 × 480 pikseli przy częstotliwości odświeżania 32 Hz oraz 640 × 120 pikseli przy 125 Hz.
Producent oferuje też wysokiej jakości statyw mikroskopowy z precyzyjną regulacją oraz niewymagające licencji oprogramowanie analityczne PIX Connect. Alternatywnie, dostępny jest też kompletny pakiet SDK.
Optris
www.optris.com
