Testowanie po amerykańsku

| Gospodarka Artykuły

Fot. 1. W warszawskim spotkaniu uczestniczyło ponad 60 osóbTestowanie urządzeń elektronicznych to proces zazwyczaj czasochłonny, przez co również kosztowny. Amerykańska firma National Instruments wytrwale promuje swoje rozwiązania pozwalające na obniżenie kosztów i zautomatyzowanie tego etapu produkcji. W tym celu pod koniec listopada w Warszawie i we Wrocławiu zorganizowano konferencję Automated Test Summit 07.

Testowanie po amerykańsku

Tradycyjne podejście do testowania urządzeń elektronicznych zarówno w laboratoriach badawczych, w zakładach serwisowych, jak i w fabrykach, polega na wykorzystaniu oddzielnych analizatorów i mierników, w celu określenia poszczególnych parametrów badanych urządzeń. Przyrządy te łączone są często w złożone systemy pomiarowe, którymi zarządza jednostka centralna, taka jak np. odpowiednio wyposażony komputer PC lub IPC. Jednakże w systemach produkcyjnych, w których ta sama czynność pomiarowa wykonywana jest wielokrotnie, odpowiednia automatyzacja procesu testowania urządzeń może znacząco podnieść wydajność fabryki. Ponadto duże znaczenie ma możliwość szybkiego dostosowywania systemu pomiarowego do nowych warunków, jakie pojawiają się wraz z wprowadzeniem nowych produktów lub choćby kolejnych rewizji urządzeń już produkowanych. Właśnie z myślą o takich aplikacjach firma National Instruments tworzyła swoje urządzenia i oprogramowanie pomiarowe.

Seminaria

Fot. 2. W trakcie przerw można było osobiście przyjrzeć się wystawionym modułom sprzętowym oferowanym przez prezentujące się firmy
Fot. 3. Jedna z prezentacji, która odbyła się w trakcie konferencji

W trakcie kilkugodzinnej konferencji, przedstawiciele NI oraz firm partnerskich, które tworzą m.in. produkty zgodne ze standardem PXI, przekonywali o zaletach stosowania zautomatyzowanego, adaptacyjnego środowiska pomiarowego. Dyrektor ds. sprzedaży, Paweł Hoerner de Roithberg, przypominał, że National Instruments podejmowało popularny obecnie temat wirtualnego oprzyrządowania już 20 lat temu. Prezentowano przykładowe aplikacje, w których zastosowano Labview w połączeniu z platformą PXI oraz niektórymi jej uzupełnieniami, takimi jak analogowe moduły przyłączeniowe. Jednakże omawiane wdrożenia były w większości nieco nietypowe, jak na polskie warunki. Duża część z nich dotyczyła wielkich amerykańskich firm, których woluminy produkcyjne liczone są w milionach sztuk lub które pracują nad technologią wojskową. Wydaje się, że nieco lepszym sposobem na zdobycie polskich klientów byłoby pokazanie większej liczby rodzimych aplikacji, w niewielkich firmach, które zdecydowały się na wykorzystanie środowiska Labview i PXI do własnych zastosowań. Pomimo to uczestnicy pozytywnie wyrażali się o omawianych technologiach i wykazywali duże zainteresowanie niektórymi z prezentowanych systemów. Co więcej, względnie duża liczba gości, przekraczająca łącznie 100 osób, jest dowodem na to, że systemy pomiarowe National Instruments coraz częściej są instalowane w polskich laboratoriach. Wysokie koszty początkowe, jakie wiążą się z zakupem Labview są minimalizowane przez polskie placówki, które często z powodu ograniczonych środków finansowych, oprogramowują systemy pomiarowe w języku C. Pozwala to na wykorzystanie zalet kompaktowej modularnej budowy PXI ponosząc koszty zbliżone do tych, jakie związane są z zakupem wolnostojących multimetrów i kart akwizycji danych innych standardów.

Podsumowanie

Połączenie prezentacji teoretycznych z technicznym opisem wdrożeń i możliwością osobistego obejrzenia urządzeń produkowanych przez NI i jej partnerów okazało się być całkiem dobrym pomysłem. Zaproszenie firm aplikacyjnych i dystrybutorów sprzętu natomiast znacząco wzbogaciło całe seminarium.

Marcin Karbowniczek