Systemy testujące PXI w praktyce
| Gospodarka ArtykułyPXI oraz LabVIEW to technologie, które od momentu powstania ułatwiają tworzenie uniwersalnych systemów testujących. Możliwość integracji wielu komponentów pomiarowych w jednej obudowie PXI oraz w ramach jednego interfejsu użytkownika to ich kluczowe cechy. Dlatego właśnie wymieniony standard w ostatnich latach cieszy się, zdaniem przedstawicieli National Instruments, coraz większym uznaniem ze strony producentów urządzeń elektronicznych.
Dzieje się tak, gdyż z czasem nowo powstające urządzenia stają się coraz bardziej złożone. Oprócz wzrostu liczby dostępnych funkcji, uzyskują one także coraz większą wydajność. Ich sprawne testowanie w przypadku produkcji masowej wymaga użycia odpowiednio wydajnego i szybkiego algorytmu testowania, który pozwoli przebadać wszystkie wbudowane funkcje - najlepiej w tym samym tempie, w jakim odbywa się produkcja.
Niejednokrotnie raz stworzona platforma testowa nie nadaje się do ponownego użycia do testowania nowego produktu, gdyż jest zbyt mało wydajna. Jeśli została ona wykonana w oparciu o oddzielne urządzenia, budowa zmodernizowanej wersji będzie wymagała rozpoczęcia wielu wykonanych już wcześniej prac od zera.
MOŻLIWOŚCI DZIĘKI NOWOCZESNYM TECHNOLOGIOM
Specyfika platformy PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) pozwala uniknąć tych problemów. Na rynku często pojawiają się nowe wersje chassis PXI, które wyposażone są w najnowsze procesory oraz układy FPGA zapewniające wydajność przekraczającą potrzeby, jakie stawiają nawet najbardziej wymagające zadania testowania. Kompatybilność wsteczna oraz łatwość stworzenia nowych interfejsów użytkownika w LabVIEW, tym bardziej, wg przedstawicieli NI, usprawniają modernizację stanowisk testowych.
 |
Z tych powodów do PXI Systems Alliance (PXISA), organizacji, która opiekuje się rozwojem standardu i tworzy zgodne z nim urządzenia, przyłącza się coraz więcej firm. Skutkuje to poszerzeniem oferty kart pomiarowych PXI, których parametry dorównują pod względem rozdzielczości i częstotliwości próbkowania niemal najlepszym samodzielnym miernikom. Wyjątkiem są tylko najszybsze oscyloskopy i analizatory, których pasmo pracy nie zostało dotąd osiągnięte w żadnych kartach PXI.
PROPOZYCJE OD NI
Wiosną firma National Instruments zorganizowała trzy konferencje z serii NI Automated Test Summit 2011, które odbyły się kolejno w Warszawie, Krakowie i we Wrocławiu. Organizator dokonał podsumowania zmian na rynku, jakie zaszły na przestrzeni ostatnich lat oraz omawiał możliwości płynące ze stosowania platformy PXI. Uczestniczyliśmy w pierwszym ze spotkań, na które przybyło około 50 osób.
Warszawska konferencja podzielona została na dwa bloki - w pierwszym Paweł Hoerner de Roithberg, dyrektor polskiego oddziału National Instruments, opowiedział o trendach rynkowych, a Wojciech Rachwalski omówił możliwości płynące z wykorzystania zaawansowanych technik pomiarowych. Drugi blok był znacznie dłuższy i składał się z kilku części. Omawiano w nim praktyczne realizacje systemów pomiarowych, w których użyto produktów PXI i rozwiązań NI.
Pierwsze z prezentacji wygłosili przedstawiciele firm ES International - CIT Engineering, Elcom i Veritech. Następnie omówiono takie zagadnienia jak metody redukcji czasu opracowania testów i ich optymalizacji. Na koniec przeprowadzono bezpłatny egzamin ze znajomości środowiska TestStandt (CTD) i LabVIEW (CLAD), w którym mogli wziąć udział wszyscy zarejestrowani wcześniej uczestnicy. Przebieg konferencji w pozostałych dwóch miastach różnił się nieznacznie. Wystąpili w nich dodatkowo przedstawiciele firm Alfamation i SE Bordnetze Polska.
Marcin Karbowniczek
